Timegateでは、製品ラインアップの継続的な改善に努めています。
最新の製品開発の取り組みとして、MicroPlate HTSシステムにマッピング機能が追加されました。
MicroPlate HTSは、ハーフエリアおよびフルエリアの96ウェルマイクロプレートから、容易に自動測定を行うことを可能にします。詳細については、HTS製品ページをご覧ください。
従来、HTSシステムでは、選択した深さにおいて各ウェルの中心部を1点測定していました。この測定方法は今後も引き続き利用可能ですが、ユーザーは新たに、選択したパターンに従って各測定ウェルをマッピングすることもできるようになりました。
ユーザーは、ウェルのどの部分をマッピングするか、またどのようなマッピングパターンにするかを選択できます。列数と行数によって、そのパターン内の測定点数が決まり、ピッチ値によって各測定点間の距離が決まります。さらに、ユーザーはレイヤー数を調整することもでき、これによりサンプルの深さ方向、つまりより深い方向に向かって測定層を追加できます。この機能は、透明な構造体や、深さ方向にばらつきがある構造体の測定に特に有用です。
得られたスペクトルは、測定ソフトウェア内で簡単にプロットすることができ、また外部ソフトウェアアプリケーションへエクスポートすることもできます。各スペクトルには明確なラベルが付与されており、どのウェル、どの列、どの行、どのレイヤーに由来するスペクトルであるかを識別できます。
ユーザーは、測定するウェルを1つまたは複数、自由に選択できます。
ユーザーは、ウェルのどの部分をマッピングするか、またマッピングパターンとその密度をどのようにするかを選択できます。顕微鏡画像の下部には粒子が含まれており、それらの粒子はマッピングパターンの一部に含まれ、明確なラマン応答を示しています。
得られたスペクトルは、測定ソフトウェア内で簡単にプロットすることができ、また外部ソフトウェアソリューションへエクスポートすることもできます。プロットから分かるように、粒子に由来する位置で測定されたスペクトルのラマン応答は、粒子形成が認められなかった位置で測定されたスペクトルとは明確に異なっています。
製品詳細は、下記フライヤー、もしくはこちらのページもご覧ください。
アプリケーションについて担当者にご相談ください。